加利福尼亞州圣何塞，2024年9月10日——布魯克公司今日宣布推出DektakProTM探針式輪廓儀，Dektak®產品線中的下一代輪廓儀。新的臺式系統融合了超過55年的創新成果，為半導體應用提供了高達200毫米的全尺寸樣品測量區域，并通過改善用戶體驗和測量精度縮短了獲得結果的時間。DektakPro的進步鞏固......

賽默飛X射線熒光光譜儀是一種用于分析材料成分的儀器，其基本工作原理是利用X射線照射樣品，使樣品中的元素原子受到激發，從而產生特征X射線熒光。通過測量這些特征X射線熒光的能量和強度，可以確定樣品中元素的種類和含量。具體來說，賽默飛X射線熒光光譜儀的基本工作原理可以分為以下幾個步驟：1、產生X射線：儀器內部有一個X射線管，......

上海爾迪儀器科技有限公司邀您第25屆參加中國國際光電博覽會（CIOE2024）時間：2024年9月11-13日展位號：3A32地址：深圳國際會展中心我們期待您的到來！?中國國際光電博覽會（CIOE）?是一個具規模及影響力的光電產業綜合性展會，自1999年創辦于?深圳以來，每年9月初在深圳會展中心舉行，該博覽會涵蓋了光電......

BRUKER原子力顯微鏡是一種高分辨率的成像技術，可以用于研究材料的微觀結構。通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。以下是BRUKER原子力顯微鏡一些具體的應用場景：1、表面形貌分析：它可以對材料表面的微觀形貌進行高分辨率成像，從而幫助研究人員了解材料的表面粗......