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簡(jiǎn)要描述：基于D8衍射儀系列平臺(tái)的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）由于具有出色的適應(yīng)能力，僅使用D8 ADVANCE，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無(wú)論是新手用戶還是專(zhuān)家用戶，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更
所在城市：上海市廠商性質(zhì)：代理商更新日期：2025-04-22訪 問(wèn) 量：493產(chǎn)品目錄
| 品牌 | Bruker/布魯克 | 價(jià)格區(qū)間 | 150萬(wàn)-200萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 儀器種類(lèi) | 單晶衍射儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀
D8 ADVANCE 規(guī)格：
功能 | 規(guī)格 | 優(yōu)勢(shì) |
TRIO 光路和TWIN光路 | 軟件按鈕切換： 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫（BB幾何） 高強(qiáng)度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 | 可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行全自動(dòng)化電動(dòng)切換，無(wú)需人工干預(yù) 是所有類(lèi)型的樣品分析的理想之選，包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延） |
動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化 | 動(dòng)態(tài)同步： 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)防散射屏 可變探測(cè)器窗口 2?角度范圍：小于1度至>大于150度 | 數(shù)據(jù)幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響 大大提高了檢測(cè)下限，可定量分析少量晶相和非晶相 在較小的2θ角度，可對(duì)粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進(jìn)行精確研究 |
LYNXEYE XE-T | 能量分辨率：<380 eV @ 8 KeV 檢測(cè)模式：0D、1D、2D 波長(zhǎng)：Cr、Co、Cu、Mo和Ag
| 無(wú)需K?濾波片和二級(jí)單色器 銅輻射即可100％過(guò)濾鐵熒光 速度比傳統(tǒng)探測(cè)器系統(tǒng)快450倍 BRAGG 2D模式：使用發(fā)散的初級(jí)線束收集2D數(shù)據(jù) 探測(cè)器保證：交貨時(shí)無(wú)壞道 |
EIGER2 R | Dectris 公司開(kāi)發(fā)的基于混合光子計(jì)數(shù)技術(shù)的新一代探測(cè)器，支持多種模式（0D / 1D / 2D） | 在步進(jìn)掃描、連續(xù)掃描和高級(jí)掃描模式中無(wú)縫集成0D、1D和2D檢測(cè) 符合人體工程學(xué)的免對(duì)準(zhǔn)探測(cè)器旋轉(zhuǎn)功能，可優(yōu)化γ或2?角度范圍 使用完整的探測(cè)器視野、免工具全景衍射光束光學(xué)系統(tǒng) 連續(xù)可變的探測(cè)器位置，以平衡角度范圍和分辨率 |
旋轉(zhuǎn)光管 | 在線焦斑和點(diǎn)焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進(jìn)行免對(duì)準(zhǔn)切換 | 無(wú)需斷開(kāi)電纜或水管，無(wú)需拆卸管道 DAVINCI設(shè)計(jì)：全自動(dòng)檢測(cè)和配置聚焦方向 |
自動(dòng)進(jìn)樣器 | FLIPSTICK：9個(gè)樣品 AUTOCHANGER：90個(gè)樣品 | 在反射和透射幾何中運(yùn)行 |
D8 測(cè)角儀 | 帶獨(dú)立步進(jìn)電機(jī)和光學(xué)編碼器的雙圓測(cè)角儀 | 布魯克準(zhǔn)直保證，確保了準(zhǔn)確性和精確度 免維護(hù)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)/齒輪裝置，終身潤(rùn)滑 |
非環(huán)境條件 | 溫度：從~85K到~2500K 壓力：10-?mbar至100 bar 濕度：5％至95％ | 在環(huán)境和非環(huán)境條件下進(jìn)行研究 DIFFRAC設(shè)計(jì)助您輕松更換樣品臺(tái) |
基于D8衍射儀系列平臺(tái)的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選，如：
典型的X射線粉末衍射（XRD）
對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析
小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）
由于具有出色的適應(yīng)能力，僅使用D8 ADVANCE，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。
無(wú)論是新手用戶還是專(zhuān)家用戶，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。
應(yīng)用范圍：
相鑒定：材料可靠性鑒別(PMI)最為常見(jiàn)，這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無(wú)法通過(guò)元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn)。
定量相分析：方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRACTOPAS軟件全譜擬合分析法
非環(huán)境 XRD：可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果
織構(gòu)分析：在DIFFRAC.TEXTURE軟件中，使用球諧函數(shù)和組分分析方法，生成極圖、取向分布函數(shù)(0DF)和體積定量分析。
殘余應(yīng)力分析：在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應(yīng)力:通過(guò)sin2psi方法，使用Cr輻射測(cè)量得到。
X射線反射法(XRR)：在DIFFRAC.LEPTOS中，對(duì)多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進(jìn)行XRR分析。
小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中，對(duì)EIGER2R500K通過(guò)2D模式收集的NIST標(biāo)樣SRM 80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析。
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