BRUKER原子力顯微鏡是一種用于觀察和測量樣品表面性質的儀器。它基于原子力的作用原理，通過探針與樣品表面的相互作用來獲取樣品表面的形貌和力學性質信息。
 

　　BRUKER原子力顯微鏡的工作原理可以簡單概括為以下幾個步驟：
 

　　1、探針與樣品接觸：探針是一個微小的、尖銳的金屬或碳納米管等材料制成的針尖。當探針接近樣品表面時，由于范德華力、靜電力或磁力等相互作用，探針會與樣品表面發生接觸。
 

　　2、掃描樣品表面：一旦探針與樣品表面接觸，它會在垂直于樣品表面的方向上掃描探針，以獲取樣品表面的形貌信息。掃描過程中，探針會受到樣品表面的反作用力，這個反作用力被稱為原子力。
 

　　3、測量原子力：通過測量探針受到的原子力來獲得樣品表面的信息。當探針掃描樣品表面時，探針所受的原子力會引起探針彎曲或振動。這種彎曲或振動可以通過激光干涉儀等裝置進行檢測和測量。根據測量到的探針彎曲或振動信號，可以計算出探針與樣品之間的相互作用力。

 

　　4、反饋控制系統：為了保持探針與樣品表面的恒定接觸，AFM配備了一個反饋控制系統。該系統會根據探針與樣品之間的相互作用力來調整探針的位置和高度，以保持恒定的接觸力。這樣可以避免對樣品造成過大的損傷，并確保獲得準確的測量結果。
 

　　5、圖像重建：通過記錄探針在掃描過程中的位移和相互作用力等信息，可以重建出樣品表面的形貌圖像。這種圖像通常以數字形式表示，可以顯示出樣品表面的起伏、粗糙度和形貌特征等信息。
 

　　總的來說，BRUKER原子力顯微鏡利用原子力的作用原理，通過探針與樣品表面的相互作用來獲取樣品表面的形貌和力學性質信息。它具有高分辨率、非破壞性、可實時觀察等特點，廣泛應用于材料科學、生物學、化學等領域的研究工作中。